在高低溫環(huán)境測(cè)試中，電子樣品的測(cè)試性能是電子質(zhì)量檢測(cè)的重要指標(biāo)之一，幾乎所有電子相關(guān)行業(yè)的品質(zhì)實(shí)驗(yàn)室都會(huì)設(shè)置一臺(tái)或多臺(tái)
高低溫箱。但是我們?cè)诰S護(hù)時(shí)發(fā)現(xiàn)，實(shí)際上許多實(shí)驗(yàn)室的高低溫箱配置并不一定能完全滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。這些都是由于用戶沒有試機(jī)的原因而造成的，也有生產(chǎn)人員的溝通不到位所致。當(dāng)然，也有部分企業(yè)用戶缺乏規(guī)范意識(shí)，不愿投入的原因。
所以，我們應(yīng)該選擇哪一種高低溫箱來進(jìn)行電子高低溫環(huán)境試驗(yàn)?zāi)兀?/div>
首先應(yīng)該理解：根據(jù)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，我們需要哪些數(shù)據(jù)？
一般情況下，對(duì)電子進(jìn)行高低溫環(huán)境測(cè)試需要采用下列參數(shù)：
1)、波動(dòng)性：環(huán)境試驗(yàn)裝置在穩(wěn)態(tài)時(shí)，其中心點(diǎn)參數(shù)隨時(shí)間變化。
2)、均勻性：環(huán)境測(cè)試設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，在一定時(shí)間內(nèi)工作，各試點(diǎn)(溫度)的差值。
3)、偏移：儀器在穩(wěn)態(tài)時(shí)，對(duì)工作空間各測(cè)量點(diǎn)的高、低值與標(biāo)稱值之間的上、下誤差進(jìn)行測(cè)量。
二、高低溫箱選型參考：
常用的高低溫箱標(biāo)準(zhǔn)溫度范圍為：-20℃~+150℃；-40℃~+150℃；-70℃~+150℃可選；-70℃~+150℃(可供用戶要求的超低溫)。
均勻性：小于或等于2℃。
溫控精度：+-0.5℃。
加熱時(shí)間：平均每分鐘2.0~3℃左右。
冷卻時(shí)間：平均每分鐘0.7~1.2℃左右。
高低溫箱性能參數(shù)：注意：①、試驗(yàn)產(chǎn)品的體積不能超過試驗(yàn)箱有效工作空間(20~35)%。對(duì)測(cè)試時(shí)發(fā)熱的產(chǎn)品建議選擇不要超過10%。②、在這一截面上，被試產(chǎn)品迎風(fēng)斷口面積與試箱室面積之比不大于(35~50)%(建議選擇35%)。③、所試樣品的外貌面與檢測(cè)箱壁距離至少為100~150mm(建議選用)。
